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光谱共焦位移传感器?外形尺寸测量?空气夹层测量?厚度(透明物体)测量?段差高度(非透明物体)测量?外形轮廓测量?表面型貌测量?表面粗糙度测量?表面微小划痕测量?三维测量?平面度测量优势??高分辨率，比较高可达纳米级??高精度，比较
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不同的系统涉及不同的安装模式，使一般工厂和机器逻辑程序复杂化。P7的主要特点是能够连接和管理所有类型的传感器和传感器，从而简化了与PLC或CNC机器的安装和对话模式。此外，配置的机器操作员的显示界面也同样均匀，尽管是针对不同功能的
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在电子器件行业，卷对卷工艺（R2R）可在塑料膜或金属箔的卷材上实现连续生产柔性和大面积的电子器件。卷对卷工艺是一系列生产技术，在两个活动材料卷间输送柔性基材，并在输送中用增材方式连续成形薄膜结构。卷对卷（R2R）是一种十分重要的基
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